近日，苏州凌光红外科技有限公司（以下简称凌光红外）顺利完成数千万元的A轮融资。本轮融资由IDG资本、飞图创投领投，苏高新融享跟投，由坤远资本担任独家财务顾问。本轮资金主要用于已有电性失效分析设备的扩产、下一代失效分析设备研发以及市场开拓与推广。

凌光红外成立于2021年12月，公司始终坚持正向研发，专注于高端实验室检测仪器的国产化，解决高精设备迫在眉睫的卡脖子问题。自2022年12月以来，在半导体电性失效分析领域，公司先后推出了制冷型锁相红外显微镜（Thermo 100）、非制冷型锁相红外显微镜（Thermo 50）、微光显微镜（InGaAs 100）等检测设备，在多个应用方向（终端、晶圆、功率器件、专业三方检测实验室等）分别交付于头部客户，性能比肩世界一流设备。

LUXET Thermo 100 锁相红外显微镜

失效分析（FA）是芯片工艺中的重要一环，用于定位和分析半导体芯片中的失效问题，对很多关键行业具有重要意义。在电子元器件的生产、 测试和使用阶段，还可以通过失效分析及时发现失效和查找失效原因并提高生产效率。

凌光红外所研发的Luxet Thermo系列锁相红外显微镜可以直接快速地透过IC 正面及背面来找出缺陷的位置。更可在 IC 未开盖的状态下先定位出失效点为 Die 或封装方面问题。该系列广泛应用于功率器件、封装测试、第三代半导体、电路板等客户。Luxet EMMI系列的微光显微镜主要使用深度制冷近红外显微系统检测IC内部所放出的光子。和Luxet Thermo系列相比，其显微倍数更高，主要适用于漏电场景。

LUXET Thermo 50

凌光红外首席科学家侯达之表示:“非常感谢本轮及前轮投资人的信任。因为亲身经历了科研领域‘卡脖子’的困境，我选择了创业研发道路。这一决定虽有偶然，但更多是时代赋予中国科研人的使命。我坚信，通过我们这一代的努力，能够不断实现高端测试设备的国产化，让中国人可以更自由地参与国际化的科技竞争，不再受限，获得更大的发展空间。”

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